Manuel Pereira dos Santos

Research Areas

Espectroscopia Raman ressonante de semicondutores dopados.
Preparação, por pulverização catódica reactiva, e caracterização de filmes finos de óxidos metálicos.
Estudo de superfícies à escala nanométrica usando um microscópio de força atómica.

Main publications

“SUPERCONDUTIVIDADE”
Bercina Ramos Pereira, Isabel T. Pedroso, J. Paulo Moniz Lima, J. Ferreira da Silva, Manuel Pereira dos Santos, 
Porto Editora, Porto (1997)

“The Effect of Substrate Temperature on the Properties of D.C. Reactive Magnetron Sputtered Titanium Oxide Films”
Li-jian Meng, M. Andritschky, M.P. dos Santos,
Thin Solid Films, 223, 242 (1993). [ Citações: 40 ]

“Investigation of TiO2 Films Deposited by DC Reactive Magnetron Sputtering Pressures”
Li-jian Meng, M.P. dos Santos,
Thin Solid Films, 226, 22 (1993). [ Citações: 59 ]

“Characterization of ZrO2 films prepared by rf reactive sputtering at different O2 concentrations in the sputtering gases”
Pengtao Gao, Li-jian Meng, M.P. dos Santos, V. TEIXEIRA, M. ANDRITSCHKY
Vacuum, 56, p.143 (2000) [ Citações: 20 ]

“Raman spectroscopy analysis of magnetron sputtered RuO2 thin films”
Li-jian Meng, V. TEIXEIRA, M.P. dos Santos, 
Thin Solid Films, 442, p.93 (2003)